Matthieu Lequeux
Ingénieur Yield, Lfoundry
2007 - 2010• Responsable du support de clients FR grands Comptes et Européens.
• Développement d’application Test utilisant des algorithmes de vision.
• Support technique aux équipes de vente européennes en phase Pré-vente.
• Support aux benchmark / évaluations des systèmes Agilent.
• Organisation et animation de formation client sur site adapté aux besoin clients pour du hardware,
software, outil CAD et logiciel SPC.
• Création de matériel destiné aux formations client et rédaction de notes applicatives.
• Installations de systèmes et intégration dans le process de fabrication, mise à jour logiciel et
hardware, réparation de systèmes sur site et calibration.
2007 - 2007SOITEC (DEPARTEMENT R&D) – Bernin - France
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Premier fournisseur mondial de plaques SOI et autres substrats avancés, 1000 employés.
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Stagiaire Ingénieur R&D (projet fait en collaboration avec le CEA / LETI)
Environnement : Salles Blanches LETI (Fab 100-200mm)
Mission: Développer un procédé microélectronique avec la technologie couche minche Smart CutTM
• Crée et améliore un procédé original Smart CutTM appliqué à un matériau ferroélectrique.
• Simulation Monte Carlo sous SRIM + Implantation avec équipement Varian E500
• Etude de l’influence des paramètres de process sur la qualité de la couche mince
• Compétences dans le process du semiconducteur : Collage, Nettoyage, Traitement thermique, CMP
• Caractérisation avec AFM, SEM, Microscope optique, Profilomètres optique et mécanique, SAM.
• Développe mes capacités à présenter oralement mes travaux, à rédiger des comptes rendus techniques et planifier les différentes étapes du projet.
2006 - 2006INTER UNIVERSITY ACCELERATOR CENTER – New Delhi – Inde
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Centre de recherche autonome pour universités, 170 employés.
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Technicien de laboratoire dans le département Sciences des Matériaux.
Mission: Etudier par AFM l’évolution des nanostructures créées à la surface par des rayons d’ions.
• Sputtering d’échantillons d’InP + Création d’un manuel Sputtering opérationnel.
• AFM imaging (tapping mode) sous Nanoscope IIIa, responsable laboratoire AFM pour 1 semaine.
• X-Ray Diffraction avec méthode 2Θ
• Création de posters pour des présentations (Powerpoint, Paint Shop Pro)