Olivier Bichet

Ingénieur Qualité R&D, Essilor International

94210St Maur des FossesÎle-de-France - France

Olivier Bichet
8 contacts
Since 2008

Ingénieur Qualité R&D, projets et programmes.

Industry
Professional experience
2004 - 2008

Activités très variées au sein d'un département engineering qui regroupe une quinzaine de personnes. Mes missions sont principalement reliées au développement et à la mise en production de nouvelles générations de disques optiques (de type Blu-Ray, mais en mieux!).
- Optimisation d'empilements de couches minces et de leur mode de dépôt (pulvérisation cathodique)
- Réalisation de tests de viellissement accéléré et analyse des modes de défaillance
- Caractérisation de couches minces (caractérisation optique et thermique, microanalyse X)
- Mise au point puis transfert de nouveaux procédés vers la production
- Maximisation des rendements de la production
- Support des équipes de production
- Rédaction de rapports techniques et de procédures qualité (ISO 9001:2000)
- Mise en oeuvre de plans expérimentaux par la méthode Taguchi
- Veille technologique

Je suis également impliqué dans un projet européen (qui fait suite à ma thèse), que ce soit au niveau technique (dépot de couche mince et caractérisation) ou de la gestion du projet.

High Tech
2001 - 2002

Séjour de recherche de 6 mois réparti entre 2001 et 2002. Réalisé dans le cadre d'un programme de la Région Rhône Alpes (Eurodoc) visant à favoriser la mobilité des doctorants.
- Etude de matériaux à changement de phase par microscopie thermique à balayage (SThM)
- Simulations des transferts de chaleur dans des couches minces (Matlab)

Education | Training
2000 - 2003

Doctorant en Physique des Matériaux avec pour sujet :
«Enregistrement par micropointe sur un média à changement de phase : vers les ultra hautes densités de stockage de l’information».
Thèse réalisée au sein du Département Optronique du CEA Grenoble / LETI.
- Démonstration de la faisabilité d'une technique d'enregistrement de données à ultra haute densité mettant en oeuvre une technique de microscopie en champ proche électrique (C-AFM) et des couches minces de matériau à changement de phase (chalcogénures)
- Etude de la fiabilité et amélioration des performances par optimisation du mode d'écriture et du média (développement d'une couche de protection)
- Caractérisation électrique de matériaux à changement de phase
- Co-auteur d'un brevet et de deux publications dans des revues à comité de lecture

Education | Training
Education

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