Arnaud ANOTTA

Génération et debug de programmes de test pour produits clients NXP et validation fonctionnelle de testchips NXP SRAM et FLASH sur testeurs Verigy HP93K.
Génération de programmes de test pour testchips eDram sur testeurs Teradyne J971-J973 et Agilent 93k. Caractérisation, qualification, support analyse de défaillance, étude SER sur ces produits. Support client (Génération des patterns de test, support lors du debug du programme de test) sur les blocs eDram fournis par Crolles II. Programmation de bists edram en assembleur.

Industrialisation de mémoires sécurisées (cartes à puces), responsable du cahier des charges de test de ces produits, qualification (ESD, OLT, Latch-up), caractérisation, validation fonctionnelle, amélioration continue des rendements. Interface technique avec les fournisseurs de composants, analyse des retours terrains, support aux business lines.