Christelle Giret

Christelle Giret

Recherche poste ingénieur Qualité/produit - analyse de défaillance
 

En poste chez SERELA

Précédents : Texas Instruments - Dallas (USA), Texas Instruments - Villeneuve-Loubet (06)

 

Précédents : Université Poitiers, Université Paris 11 Paris Sud, Université Marne La Vallee

 

    En résumé

    Apres 12 ans d'expertise et de développement des techniques associées au Contrôle qualité des semi-conducteurs, j'ai acquis une méthodologie, une autonomie et une rigueur adaptable a d'autres domaines de compétences et secteurs industriels. Mes qualités pédagogiques et rédactionnelles sont très appréciées auprès des clients et de mes collaborateurs. Actuellement en recherche d'emploi, je souhaite développer mes compétences et relever de nouveaux challenges au sein d'entreprises dynamiques. Très bon relationnel et Esprit d’équipe Anglais courant Mobilité a l'international (USA, Angleterre, Espagne )

Parcours

Ingénieur Analyse de Défaillances

Chez SERELA

De 2010 à aujourd'hui
- Analyse de la sécurité des cartes à puces - Reconstruction de layout et Reverse Engineering pour comprendre le fonctionnement de blocs/cellules d’un circuit - Amélioration du process de retrait des couches d’un circuit par polissage mécanique, voie chimique et/ou plasma - Caractérisation physique ...
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ingénieur qualité - analyse de défaillance

Chez Texas Instruments - Dallas (USA)

De juillet 2009 à janvier 2010
-Transfert et Installation des équipements (Nanoprober,TRION plasma, microscopes optiques et électroniques à balayage) -Formation de l’équipe sur la méthodologie d’analyse défaillance, des techniques et appareils utilisés au laboratoire de Nice (nanoprobing, caractérisation électrique de défauts et ...
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Ingénieur qualité - analyse de défaillance

Chez Texas Instruments - Villeneuve-Loubet (06)

De octobre 2000 à juillet 2009
- Maitrise des étapes de la fabrication et du processus qualité de la qualification d’un produit semi-conducteur - Expertise des techniques de préparation d’échantillons et d’analyse de surface (polissage, enrobage, plasma, méthodes chimiques, microsection, microscopie optique et électronique, ...
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Université Poitiers, Poitiers

DESS Analyse Microstructurale des Matériaux

De septembre 1999 à septembre 2000
 

Compétences

 
  • analyse de defaillance
  • Contrôle qualité
  • microscopie electronique
  • Microscopie optique
  • nanoprobing/microprobing
  • Rédaction technique
  • Semiconducteur

Langues parlées

 

Centres d'intérêt

 
  • Sportive - Softball en competition (membre de l'equipe en 1996 et 1998)
  • photographie
  • voyage