Fabien Dudkiewicz

Developpements des tests electriques et optiques des semiconducteurs au sein de la BU Imaging de STMicroelectronics.

Support technique et réalisation des prestations tenant au test des composants électroniques.
Mise en place du Hub de Grenoble (test cell Verigy V93k) au sein du CEA-Leti.

Principaux projets effectués au sein d'Atmel Corp. (site de Rousset et Nantes) , Serma Technologies (Bordeaux) pour des portages de programmes de tests de composants.

J'ai travaillé durant 7 ans comme Ingénieur d'Applications en charge du support en clientèle des équipements de test type ATE pour un compte client majeur (STMicroelectronics notamment en région grenobloise).
Je suis intervenu dans le developpement des test de produits de la BU Set-Top-Box, puis Graphics chipset.
Fort niveau d'expertise de la programmation sur ATE de la famille ITS9000, Sapphire et Diamond D10.

Puis pendant 2 ans, j'ai eu la charge du support applicatif d'équipements de Failure Analysis de Credence (TRE, EMMI, SDL, sur des technos jusqu'à 45nm..) et du support de leurs outils CAD associés (pour FIB, analyse de scan-chain...). J'etais en charge du support de laboratoire comme Atmel-CIMPACA, Crolles-Alliance, Infineon Perlach...