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Ferdaous BEN ROMDHANE

PARIS

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En résumé

Docteur en Physique de l’Université de Strasbourg, je souhaite poursuivre mon activité professionnelle dans l’entreprise et plus spécifiquement en caractérisation des matériaux à l'échelle micro/nanométrique, domaine dans lequel je me suis spécialisée, notamment dans les techniques de microscopies.

Mes compétences :
Analyse
Caractérisation des matériaux

Entreprises

  • Mines Paristech - Ingénieur de recherche

    2018 - maintenant -Caractérisation microstructurale, mécanique et électrique d’inox plat revêtu pour plaques bipolaires de piles à combustibles à membrane polymère
    -Analyse par microscopie électronique en transmission des campagnes de revêtements
    -Validation des produits, structure des couches, qualité des interfaces
    -Développement de méthodes d’analyse précise: morphologie, structure cristallographique, nature chimique
    -Rédaction des rapports d’analyses

  • Cnrs - Chercheur

    Paris 2015 - 2017 -Développement d’une méthode de synthèse et de mesure électrique in-situ en MET
    -Préparation d’échantillons: attaque électrolytique, exfoliation mécanique, dépôt sur grille, soudage
    -Animation d’une équipe technique: animation des réunions, suivi de l’avancement, coordination des activités et analyse des résultats

Formations

  • Université Strasbourg 1 Louis Pasteur

    Strasbourg 2011 - 2015 Doctorat en Physique

    -Investigation et synthèse de matériaux nanométriques par MET
    -Méthodes utilisées : chauffage in-situ et irradiation par le faisceau électronique
    -Caractérisation des structure par imagerie haute résolution (HRTEM) et analyses chimiques (EDX, EELS, EFTEM)
    -Elaboration de mécanisme de croissance in-situ
    -Préparation d’échantillon par pulvérisation cathodique
    -Simulation d’image de microscopie (EMS

  • Université Strasbourg 1 Louis Pasteur

    Strasbourg 2010 - 2011 Master 2 matière condensée et nanophysique

    -Étude de la diffusion atomique sous l’effet d’irradiation par MET
    -Préparation d’échantillon de microscopie
    -Vérification des échantillons par MEB

Réseau

Pas de contact professionnel

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