Martin Combrié

1. Process Reliability characterisation of new and current processes in NXP.

2. Provide reliability expertise, knowledge and support to manufacturing and development programs.

3. Initiate and implement methods, procedures and models for improving reliability physics knowledge.

4. Communication with other reliability experts.

Projet de Fin d'étude.
Mise au point d'une nouvelle méthode de test "à la volée" pour caractériser une dégradation survenant dans les transistors PMOS (NBTI). Récupération des données et analyses de l'influence de la tension d'alimentation, de la température et de la durée de fonctionnement.