Michaël JUBLOT
Ingénieur R&D physique des matériaux
Ingénieur-chercheur de formation, j’ai développé une forte expérience dans la conduite de projet pour l’analyse et la formation de nano-dispositifs complexes adaptés à la microélectronique.
Mes compétences portent principalement sur les matériaux type oxyde et semi-conducteur ainsi que sur les techniques d’analyse de microscopie électronique et diffraction X.
Après une expérience de 4 ans en laboratoire de recherche publique, j’ai intégré le CEA-LETI, centre européen de recherche appliquée dédié à l’innovation industrielle. Passionné, dynamique et responsable, je souhaite à présent mettre mes compétences au service de l'industrie.
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COMPÉTENCES GÉNÉRALES :
GESTION DE PROJETS D'ANALYSE & DE RECHERCHE
- Recherche bibliographique, capacité à analyser et synthétiser les résultats
- Mise en œuvre de plans de caractérisations par l'utilisation de techniques analytiques appropriées
- Communication via des rapports techniques, des conférences internationales et des articles dans des journaux scientifiques (Nature Nanotechnology)
DÉVELOPPEMENT DE TECHNIQUES D'ANALYSE
- Suivi des derniers développements publiés dans la littérature
- Création de protocoles d'analyses, développés et testés sur matériaux modèles puis sur matériaux d'intérêts
- Communication et collaboration avec les experts techniques et scientifiques
APTITUDE A TRAVAILLER EN ÉQUIPE, A GÉRER UN GROUPE DE TRAVAIL
- Gestion de groupes sur divers projets de recherche
- Expérience des techniques d'enseignement et de management
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COMPÉTENCES TECHNIQUES :
TECHNIQUES D'ANALYSE STRUCTURALE, MORPHOLOGIQUE ET CHIMIQUE
- Microscopie électronique à balayage et en transmission
- Diffraction des rayons X
- XPS
- Caractérisation diélectrique (C-V;I-V)
MÉTHODE DE PRÉPARATION D'ÉCHANTILLONS POUR L'ANALYSE
- FIB/MEB double faisceau
- Polissage mécanique et ionique
CROISSANCE ET TRAITEMENT DE FILMS MINCES
- Croissance par pulvérisation ionique, par pulvérisation magnétron et par faisceau d’électrons
- Irradiation ionique
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LANGUE :
Maîtrise de l’anglais courant et scientifique.
Espagnol : notions.
21 contactsIngénieur de recherche Matériaux / Caractérisation, Centre Pluridisciplinaire de Microscopie électronique et de Microanalyse
- Conseiller auprès de chercheurs et industriels (St Gobain, CEA Cadarache, …) pour l’analyse de nano-matériaux
- Réalisation de programmes d’analyses microstructurale, chimique et morphologique sur les matériaux développés par nos partenaires
- Collaboration avec différents partenaires sur le développement d’un FIB / SIMS
- Responsable équipements (FIB, MET)
2008 - 2010- Développement de méthodes et techniques d'analyse fines pour l'étude de nano-matériaux - Collaboration avec IBM et STMicroelectronics
- Analyses de la structure de transistors CMOS par microscopie électronique afin de comprendre et améliorer les mécanismes d'élaboration.
- Travaux ayant abouti à l'écriture d'un brevet et d'articles scientifiques
- Méthode d'extraction et d'amincissement développée sur FIB/SEM dual-beam
- Travail en salle blanche.
2003 - 2008Croissance et irradiation de films minces dans l'optique de former une nouvelle structure de haute constante diélectrique, pour des applications en microélectronique (CMOS).
Gestion du projet de recherche sur 4 ans:
- Recherche bibliographique.
- Croissance par pulvérisation ionique et faisceau d'électrons; irradiation ionique.
- Mise en oeuvre de toutes les étapes de caractérisation par l'emploi de techniques d'analyse avancées (DRX, MET).
- Analyse et synthèse des résultats
- Communication sous forme d'exposés oraux et par l'écriture d'un rapport de synthèse et d'articles dans des journaux scientifiques.
2003 - 2003- Etude de la structure atomique de la jonction tunnel magnétorésistive afin d'améliorer et comprendre les mécanismes activant la magnétorésistance.
- Analyse réalisée par microscopie électronique en transmission.
2002 - 2002Caractérisation structurale de films minces d'oxydes, magnétorésistifs et supraconducteurs, par microscopie électronique en transmission.