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Michel JUGE

ROUSSET

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Entreprises

  • STMicroelectronics - Rousset [13-France] - Ingénieur APC & Data Analysis

    1999 - maintenant - Membre de l'équipe Photolithographie/Métrologie jusqu'en 2002.
    - De 2002 à 2009 ingénieur procédés Etch puis mise en place d'un système avancé de suivi des équipements et des procédés [APC&AEC-Advanced Process & Equipment Control].
    - Depuis 2009, APC et analyses multivariables 'online' et 'offline' - optimisation capteurs & équipements.
    - Missions aux US (SF, Boston), Catania (Sicile), Agrate (Italie), au Japon (Mito, Hitachinaka), Israël (Nes-Ziona), en France sur les sites de Tours et Crolles.

  • Altis Semiconductors (ex-IBM Semiconductors) - Corbeil-Essones [91-France] - Ingénieur support procédés

    1995 - 1999 - Qualification équipements de photolithographie. Contrôle dimensionnel (CDSEM) et superposition (Overlay).
    - Développement procédés.
    - Missions à Fishkill (New-York/USA) et Burlington (Vermont/USA).

  • CEMAGREF -Saint-Martin d'Hères (38-France] - Service Civil (17 mois) puis CDD

    1993 - 1995 Développement et mise en place de capteurs.
    - Capteurs autonomes de mesure de hauteur et de densité des crues et laves torrentielles.
    - Missions à Draix près de Dignes.

Formations

  • INSA TOULOUSE

    Toulouse 1990 - 1993 Ingénieur + DEA Microélectronique Université Paul Sabatier

    Physique des matériaux et méthodes d'analyses.
    Stage à Tallahassee, Floride, USA au National High Magnetic Field Laboratory (NHMFL).

  • IUT Mesures Physiques Université Joseph Fourier

    Grenoble 1988 - 1990 Diplôme de Technicien Supérieur en Mesures Physiques

    Stage au SYNCHROTRON (Grenoble).

Réseau

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