Nicolas MORIZET

Utilisation d'outils temps-fréquence et ondelettes à l'analyse de signaux d'émission acoustique de matériaux composites.

Thèse en biométrie multimodale (visage et iris)
Sujet: "Reconnaissance biométrique par fusion multimodale du visage et de l'iris".

IEEE Graduate Student Member
IEEE Signal Processing Society Member
SEE Member - Components Section


Publications & Conférences:

N. Morizet et J. Gilles, “A New Adaptive Combination Approach to Score Level Fusion for Face and Iris Biometrics Combining Wavelets and Statistical Moments”. ISVC 2008, 4th International Symposium on Visual Computing, December 1-3 2008, Las Vegas, Nevada, USA.

N. Morizet, I.D. Hamed, F. Amiel et T. Ea, “A Comparative Implementation of PCA Face Recognition Algorithm”. ICECS 2007, 14th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems, December 11-14 2007, Marrakech, Morocco.

N. Morizet, “Wavelet Domain Match Score Level Fusion for Multimodal Biometrics”. COGIS 2007, 3rd Conference on COGnitive systems with Interactive Sensors, November 26-27 2007, Stanford University, California, CA, USA.

N. Morizet, "Revue des Algorithmes PCA, LDA et EBGM utilisés en reconnaissance 2D du visage pour la biométrie". Conférence MajecSTIC’06, 24 Novembre 2006, Lorient, France.

Conférences invitées:

N. Morizet, "Le Croisement des TIC et de la Cognition : l’exemple de la biométrie". Conférence FING, 25 Avril 2007, Université Paris Descartes, France.

N. Morizet, "Ondelettes et Applications". Thales Land & Joint Systems, 21 Novembre 2008, Cholet, France.

Prix:

N. Morizet, "Initiation aux Ondelettes". Article invité de la Revue de l’Electricité et de l’Electronique (REE). Prix Jean-Marie Bergès 2007, meilleur article de la REE 2006.

Utilisation d'outils de traitement du signal, en particulier les ondelettes, pour l'analyse de profils de diffraction et de réflectométrie de rayons-X d'hétérostructures de semiconducteurs en couches minces pour des applications à la micro-opto électronique.

Publication:
O. Durand, N. Morizet, "Fourier-Inversion and Wavelet-Transform Methods Applied to X-Ray Reflectometry and HRXRD Profiles from Complex Thin-layered Heterostructures", Elsevier, Applied Surface Sciences, 2006.

Conception d'un site intranet pour le laboratoire d'analyses physiques avancées et nanostructures.