Patrick BOUILLON
Dirigeant, Domaine le Pré de la Serve
Généalogiste Professionnel
Propriétaire 4 Chambres d’Hôtes et Table d’Hôte en Bourgogne
2005 - 2008Fabrication d’Ecrans Bistables à Cristaux Liquides
Mise en Place et Mise sous contrôle Qualité et Rendements d’une ligne pilote de production – Expatriation en Suède (2 an)
Qualification d’une nouvelle technologie de Fabrication et d’un nouveau Produit Ecran Plat pour sa mise sur le marché
Transfert Technologie et lancement d’une pré-production chez un partenaire sous-traitant – Expatriation au Japon (1 an).
Responsable Assurance Qualité Procédés et Produits Front-End, ALTIS SEMICONDUCTOR - CORBEIL-ESSONNES
2001 - 2005Fabrication Microélectronique de Circuits Intégrés en Technologie CMOS 0,25µm et 0,18µm
Management d’un groupe de 7 ingénieurs chargés de l’Assurance Qualité des Procédés Front-End et des Produits avant/après livraison
Responsable Assurance Qualité des Sous-Traitances Back-End d’Assemblage délocalisées, THALES MICROSONICS - SOPHIA-Antipolis
2000 - 2001Fabrication de Filtres à Onde de Surface pour la Téléphonie Grand public et Professionnelle
Assurance de la Qualité Produits et Procédés Back-End en Assemblage chez les Sous-Traitants Philippins et Marocains et Analyse de Rendements Produits au travers des Tests Visues, Herméticité et Electrique
Consultant-Chef de Projet Grand Compte en Obsolescence Microélectronique, SERMA Technologies - BORDEAUX-Pessac
1998 - 1999Services d’Expertise et de Veille Technologique en Obsolescence des Composants Microélectroniques
Analyse du Marché Européen Cible, Marketing et Vente de l’Offre de Services autour du Développement d’une Base de Données de Gestion de l’Obsolescence Microélectronique. Membre du Directoire
1995 - 1998Fabrication Intégrée sur Silicium de Têtes Magnétiques pour Disques Durs d’Ordinateurs
Caractérisation de Rendements et Assurance de la Qualité Procédés Front-End sur Tranches de Silicium en France
Assurance de la Qualité Produits Back-End en Assemblage sur Bumps chez les Sous-Traitants Coréens et Italiens.
Chef de Service Test sous Pointes et Ingénierie Produits Masques Litographie, IBM Microelectronique - CORBEIL-ESSONNES
1991 - 1995Engineering des Procédés de Test sous Pointes sur Tranches de Silicium en cours de Production.
Développement et Mise en Place Complète d’un Outil de Production pour l’Analyse Automatisée des Données Testées
Approvisionement en Masques Litographie de 2 lignes de fabrication de produits microélectroniques.
Ingénieur Expert en Diagnostique de Défauts Produits et Analyse de Rendements de Production, IBM Microelectronique - CORBEIL-ESSONNES
1988 - 1991Analyse de Rendements après Test sous Pointes et Diagnostique de Défauts Procédés.
Prévision d’Impacts sur Rendements Production et Suivi de Plan d’Actions en Ligne de Fabrication.
Expatriation 18 Mois aux USA en tant qu’Interface Technique Inter-Site entre les Sites de Corbeil-Essonnes (F) et East-Fishkill (NY-USA)