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Patrick MORENO

Meudon

En résumé

-Préparation d’échantillons par polissage et/ou deprocessing (chimique ou plasma)
-Inspection des échantillons en MEB (SEM 4500-4700)
-Préparation d’échantillons par FIB (Dual Beam Helios ou Strata 400 de FEI)
-Inspection des échantillons en TEM (TITAN FEI)
-Responsable d'équipements et support utilisateurs pole compétitivité Arcsis (Laboratoire CIMPACA)
-Support et configuration PC (mail,imprimante...)

http://pmorenojob.wix.com/moncv


Mes compétences :
Informatique bureautique
Rigueur scientifique
Esprit analytique
Résolution de problèmes
Informatique
Electronique
PC
Inspection microscopie electronique SEM
Maintenance Informatique
Preparation et inspection lamelles TEM
Failure Analysis
FIB Dualbeam
MEB-SEM
TEM-MET

Entreprises

  • Gemalto - Technicien Qualité

    Meudon 2016 - 2016 Utilisation de testeurs , pc ,étuves ,oscilloscope pour qualifier des produits (carte à puce,modules ,inlay...) en réalisant différents tests dans le cadre de PQR ou CQR.
    Domaine contact ou contactless , mesure de champ,fréquence de résonance...
    Récupération des données brutes et mise en forme sous Excel
  • Gemalto - Technicien Qualité

    Meudon 2015 - 2015 Qualification de produit.
    Installation et configuration de logiciels spécifiques et de pcs pour réaliser des campagnes de tests et recueillir les données.
    Utilisation d’étuves et testeurs sur réseau ; récupération et traitement des données avec traitement de texte et/ou tableur.
  • Ministère de l'Education nationale - Professeur de technologie

    Paris 2015 - 2015 Remplacement de professeur de technologie en collège , 240 élèves de troisième.
  • LFOUNDRY-ROUSSET - Technicien Superieur Laboratoire Analyse de Defaillances

    ROUSSET 2010 - 2014 Localisation en microscopie optique à l'aide de coordonnées layout et/ou photos , suivi de la ligne de fabrication ( département qualité) et support R&D.
    Travail en salle blanche.
    Préparation d’échantillons (FIB dualbeam HELIOS ou STRATA 400) et inspection en microscopie électronique à transmission (TEM).Navigation layout sur station SUN.
    Coupes avec vues progressives dans des défauts de quelques nanomètre.
    Responsable des équipements ci dessus pour la plateforme mutualisée CIMPACA (pole de compétitivité ARCSIS),liaison avec les fournisseurs,support et formation des utilisateurs,intervention premier niveau.
    Préparation d’échantillons (coupe métallographique et deprocessing) par polissage sur plateau de quartz ou attaque par plasma et/ou chimique.
    Inspection en microscopie électronique à balayage (SEM HITACHI 4500 ET 4700).
    Gestion des produits chimiques (FDS,FAU).
    Configuration PC pour les utilisateurs : mail,imprimante et disque dur réseau.
    Rédaction de rapport quotidien sous Word et présentation hebdomadaire Powerpoint.
  • ATMEL-ROUSSET - Technicien Atelier laboratoire Analyse de defaillances

    Rousset 1999 - 2010 Suivi de la ligne de fabrication ,rattaché au departement qualité , inspection optique et électronique (SEM).
    Préparation d’échantillons par attaque physique (polissage manuel ou sur plateau quartz) et/ou deprocessing chimique (ou plasma)
    Rédaction de rapport sous Word et suivi des analyse sur Excel.
  • ATMEL-ROUSSET - Operateur service assemblage

    Rousset 1993 - 1999 Mise en boitier céramique des puces (sciage,collage,câblage...) en respectant le cahier des charges du client.
    Travail en horaire posté

Formations

  • Lycée Marie Madeleine Fourcade

    Gardanne 2009 - 2011 Réalisation d'un module de reconnaissance vocale pour porte d’accès.
    Création du schéma théorique (suite logicielle Proteus),
    Commande des différents éléments sur internet.
    Réalisation de la gravure automatisée , placement des composant (CMS ou trous traversants)
    Programmation du pic en langage C , vérification des liaisons électriques et ISO2 avec le module général.Mise en fonction.
  • Lycée Vauvenargues

    Aix En Provence 1981 - 1987

Réseau

Annuaire des membres :