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Edouard FRANCKX

HEM

Electionseuropéennes 2024

RETROUVEZ GRATUITEMENTLe résultat des européennes à Hem ainsi que le résultat des européennes dans le Nord.

En résumé

Mes compétences :
Langage SQL
Langage C/C++
Labview
Atomic Force Microscope
Intégration solution MLPPP
Qualification de lien transmission
Installation de baies Nokia Siemens Network
Swap 2G/3G
Intégration 4G NSN
Injection de script
Travaux sur pylône
Swap FH
Swap atelier d'énergie
Mutation de lien transmission

Entreprises

  • Groupe SNEF - Technicien telecom

    2013 - maintenant Swap 2G, 3G et déploiement 4G SFR sur Lille et Amiens

  • IEMN Institut d'Electronique, de Microélectronique et Nanotechnologie - Développeur d'applications

    2012 - 2012 Développement d'applications de traitement de données et de pilotage d'un nanoprobe (microscope 4 pointes STM unique en France) sous environnement Labview

  • IEMN - Institut d'Electronique de Microelectronique et Nanotechnologie - Assistant ingénieur de recherche

    2011 - maintenant Stage de fin d'étude DUT GEII (Génie Électrique et Informatique Industrielle).

    Sujet: Interfaçage et pilotage d'un microscope à force atomique sous l'environnement Labview.

    Le microscope de type AFM (Atomique Force Microscope) était connecté à un poste informatique par l'intermédiaire d'un contrôleur.
    Le besoin était de pouvoir changer de poste en évitant des problèmes de compatibilité mais aussi d'améliorer et rendre le système plus souple afin de permettre d'autre fonctionnalité que le logiciel fournisseur.

    Mon objectif principal était de développer un programme afin de pouvoir piloter le microscope manuellement, mais aussi de réaliser une routine permettant d'engager le microscope sur l'échantillon de façon automatique.
    Le projet s'est réalisé en deux temps. Une partie de "reverse ingeneering" afin d'analyser le fonctionnement du microscope. et la seconde partie était le développement de l'application.

    compétences acquises: Développement langage G (graphique) Labview, connaissances en microscopie en champ proche.
    Qualités acquises: Persévérance, courage, patience, et rigueur.

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