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Jacky GORIN

SCOTTSDALE

En résumé

LinkedIn profile
https://www.linkedin.com/in/jacky-gorin-19616b10

Direction des Ressources Humaines:
Je travaille depuis 20 ans outre atlantique, ayant contribué au démarrage de 2 start-up aux Etats-Unis et au démarrage de 2 usines en France.
Pouvez-vous m’aider à trouver une opportunité en France, en prenant en compte cette expérience ?
• Consultant, Expertise en Test Industriel, Maintenance et Production avec Leadership autour d’une dizaine de personnes
• validation et transfert géographique de moyens de test, montée en puissance.
• aptitude et ténacité à résoudre des problèmes complexes.
Je peux être disponible un mois après une prise de décision de revenir en France.
Il me reste 10 ans de carrière avant une retraite bien méritée en Bretagne.
Je suis mobile avec une préférence pour la Bretagne, possédant une maison dans les Cotes d’Armor
Je cherche un CDI, et suis ouvert au partage salarial.
I would like to capitalize my skills to manage a team or lead a project of transfer a production from one site to another worldwide.
Cordialement,
Jacky Gorin

Mes compétences :
Semiconductors
Complex statistical analysis
Visual Basic for Applications
Test Programs development
Statistical Process Control
Optoelectronics
Microsoft Office
Commodity Trading
C Programming Language
Backend Maintenance
Real time bidding
JavaScript
Diagnostic
SQL
Intelligence artificielle

Entreprises

  • Test Acuity Solutions, Scottsdale, Arizona, USA [Anciennement Test Advantage] - Recherche et Développement / Consultant

    2000 - maintenant - Plate-forme pour la révision de programmes de test permettant de détecter des anomalies comme Répétabilité et Reproductibilité (R&R) entre sites d’un testeur
    - Amélioration de 50% des algorithmes de détection d’outliers pour améliorer la qualité et réduire les coûts de fabrication de circuits intégrés
    - Intelligence Artificielle en analysant des données enregistrées sur une longue durée du marché forex passé et les données en temps réel pour prévoir le futur

  • Test Advantage, Tempe, Arizona, USA - Ingénieur d’application

    1998 - 2000 - déploiement mondial de technologie (hard et soft) basée sur la réduction des temps de test et conservant les rendements et corrélations avec le passé
    - optimisations et corrélations accomplies sur 100+ programmes de Test en France, Italie, Singapour, Malaisie et Philippines sur testeurs de type Teradyne

  • NOKIA (autrefois Alcatel-Optronics) ,Nozay, France - Responsable de Test, Composants optoélectroniques

    1994 - 1997 - Responsable Maintenance de 3000+ équipements (assemblage, test).
    - Cahier des charges et sous-traitance de fabrication de testeurs automatiques de composants optoélectroniques pour réduire le temps de test de 50%

  • NOKIA (autrefois Alcatel-CSO), Marcoussis, France - Responsable de Test, Composants électroniques

    1988 - 1994 - Moyens de test automatique avec sélection rigoureuse de dérives et outliers après ReTest vieillissement accéléré en baie de déverminage (prober, handler)
    - Test de circuits intégrés pour les câbles sous-marins fibre optique S280 et S560
    - Stratégies de test pour la future usine Alcatel-Optronics.

  • STMicroelectronics, Nancy, France - Ingénieur de Test, dans une usine de fabrication de circuits intégrés

    1986 - 1988 - Participation au démarrage de l’usine (0 à 10 millions de pièces / mois).
    - Formation du personnel de production sur 20+ testeurs (LTX, Teradyne).
    - Initiatives et prises en charge de réductions de temps de test de +35%.
    - Assistance technique du personnel de production, suivi quotidien des rendements et temps de test avec rapport SPN avec les ingénieurs de Grenoble, auteurs des programmes de test et responsables produit.

  • NOKIA (autrefois Alcatel-UCI), Les Ulis, France - Ingénieur de Test, dans une unité de conception de circuits intégrés

    1983 - 1986 - Testabilité et méthodes de test, avec les ingénieurs de conception.
    - Test sous-pointes de wafers et test final de circuits intégrés sur testeur LTX.

  • NOKIA (autrefois Thomson-CSF-Téléphone), Boulogne, France - Ingénieur de Test, pour le contrôle d’entrée de circuits intégrés

    1981 - 1983 - Contrôle d’entrée de circuits intégrés et circuits hybrides sur testeur LTX
    - Développement des moyens de Test à Boulogne, Contrôle d’entrée à Eu

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